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    想測試電氣是否短開(kāi)路,合民教您!

    文章出處:本站原創(chuàng ) 責任編輯:kefu 發(fā)表時(shí)間:2022-10-8【

    電氣測試使用的最基本儀器是東莞ict測試治具,傳統的在線(xiàn)測試儀測量時(shí)使用專(zhuān)門(mén)的針床與已焊接好的線(xiàn)路板上的元器件接觸,并用數百毫伏電壓和 10毫安以?xún)入娏鬟M(jìn)行分立隔離測試,在線(xiàn)測試通常是生產(chǎn)中第一道測試工序,能及時(shí)反應生產(chǎn)制造狀況,利于工藝改進(jìn)和提升。

      
      東莞ict測試治具可以精確地測出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控硅、場(chǎng)效應管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參 數值偏差、焊點(diǎn)連焊、線(xiàn)路板開(kāi)短路等故障,并將故障是哪個(gè)元件或開(kāi)短路位于哪個(gè)點(diǎn)準確告訴用戶(hù)。
      基本的ICT近年來(lái)隨著(zhù)克服先進(jìn)技術(shù)技術(shù)局限的技術(shù)而改善。例如,當集成電路變得太大以至于不可能為相當的電路覆蓋率提供探測目標時(shí),ASIC工程師開(kāi)發(fā)了邊界掃描技術(shù)。邊界掃描提供一個(gè)工業(yè)標準方法來(lái)確認在不允許探針的地方的元件連接。額外的電路設計到IC內面,允許元件以簡(jiǎn)單的方式與周?chē)脑ㄐ?,以一個(gè)容易檢查的格式顯示測試結果。
      另一個(gè)無(wú)矢量技術(shù)將交流(AC)信號通過(guò)針床施加到測試中的元件。一個(gè)傳感器板*住測試中的元件表面壓住,與元件引腳框形成一個(gè)電容,將信號偶合到傳感器板。沒(méi)有偶合信號表示焊點(diǎn)開(kāi)路。用于大型復雜板的測試程序人工生成很費時(shí)費力,但自動(dòng)測試程序產(chǎn)生軟件的出現解決了這一問(wèn)題,該軟件基于PCBA和CAD數據和裝配于板上的元件規格庫,自動(dòng)地設計所要求的夾具和測試程序。雖然這些技術(shù)有助于縮短簡(jiǎn)單程序的生成時(shí)間,但高節點(diǎn)數測試程序的論證還是費時(shí)和具有技術(shù)挑戰性。
      那么ICT測試儀開(kāi)/短路測試程序的應該怎么進(jìn)行調試呢?
      當生成開(kāi)/短路測試數據文件后,為穩定及保險起見(jiàn),請在開(kāi)/短路自學(xué)習完畢后選擇Test對本開(kāi)/短路測試程序進(jìn)行測試。測試時(shí)機器會(huì )先作開(kāi)路測試(Open Test),它是在同一鏈上,針號與針號作開(kāi)路測試;后作短路測試(Short Test),它是在不同鏈上針號與針號作短路測試。
      例: Chain Node 1 1 2 6 12 25 40
      2 3 11 19 32
      在鏈1作開(kāi)路測試:1-2、1-6 、1-12、1-25、1-40
      在鏈2作開(kāi)路測試:3-11、3-19、3-32
      若鏈1、鏈2通過(guò)開(kāi)路測試,則用鏈頭(Chain Head)作短路測試,即:1-3
      在開(kāi)路測試時(shí),針號與針號的電阻若少于開(kāi)路門(mén)檻值(Open Res),則當作短路,此時(shí)開(kāi)路測試Pass;在短路測試時(shí),針號與針號的電阻若大于短路門(mén)檻值(Short Res),則當作開(kāi)路,此時(shí)短路測試Pass。
      開(kāi)/短路設有兩個(gè)門(mén)檻值,主要原因是形成一個(gè)范圍,使組件值的差異不致使有不穩定或誤判的情況發(fā)生。
      測試后若程序穩定,則屏幕左下角推出“PASS”,請下壓針床壓頭來(lái)回幾次及測試幾次,以觀(guān)察其是否穩定,若出現“FAIL”,則作以下處理:
      A、 徹底檢查顯示出的測試針(針號)是否接觸不良
      B、在保證測試針接觸良好的情況下,若出現測試時(shí)好時(shí)壞,則查清是否受電感線(xiàn)圈的影響,如果是,則跳過(guò)顯示出的針號,操作方法:確認光標在要跳過(guò)的針號項時(shí)選擇O/S Edit/Mask,這時(shí)針號項會(huì )變成紅色,表明已跳過(guò)這一針號。
      因電感線(xiàn)圈在瞬間得電時(shí)會(huì )產(chǎn)生感生電壓,可能會(huì )影響開(kāi)/短路的測試,而使得測試程序工作不穩定。若某幾個(gè)測試針編號常出錯,而查實(shí)的確為此類(lèi)問(wèn)題,則有必要跳過(guò)這幾個(gè)測試針的編號。
      被跳過(guò)的測試點(diǎn)在開(kāi)/短路測試時(shí)將不考慮該測試點(diǎn)與其它測試點(diǎn)的開(kāi)/短路關(guān)系,但并不影響組件的測試。
      東莞ICT測試治具測試過(guò)的故障板,因故障定位準,維修方便,可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測試項目具體,是現代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測試手段之一。想了解更多測試治具資訊,歡迎聯(lián)系我們!

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